简要描述：灵活的自动扫描系统MDPmap设计用于离线生产控制或研发、测量少子寿命、光电导率、电阻率和缺陷信息等参数的小型台式无触点电特性测量仪器，在稳态或短脉冲...

简要描述：激光扫描系统该仪器被设计用于工艺和材料的质量监控，例如单晶或多晶硅。多晶硅砖切割标准的自动输出。能够根据炉子的输出质量进行单独的炉子监控进行优化和决定...

简要描述：晶体硅太阳电池SENperc PV是为PERC太阳能电池制造质量控制而设计的。它测量SiO2、Al2O3和SiNX单层膜和叠层膜，这些单层膜和叠层膜用...

简要描述：快速自动扫描系统MDPinline ingot系统是可用于多晶硅电气特性的快的测量工具。它被设计用于高产量生制造工厂的研究用途。每块砖都可以在不到两分...

简要描述：少子寿命测试仪MDPinline是一个用于定量测量少子寿命的紧凑型高速生产集成自动扫描系统。当晶片通过传送装置移动到仪器下面时，一片晶片的形貌测量在一...

简要描述：薄膜反射和透射的在线监测系统RT inline 薄膜测量系统是为沉积过程的在线质量控制而设计的。该方法基于SENTECH的薄膜厚度探针FTPadv，用...

简要描述：在线寿命和电阻率扫描仪电池生产线的进料质量调查是常见的应用案例，以及在钝化和扩散之后的工艺质量检查，在许多其他的专业应用领域也有很大的可能性。只需要集...

简要描述：自动扫描薄膜测量仪器SenSol自动扫描仪器设计用于玻璃薄膜光伏制造中薄膜性能的质量控制的在线测量。大量的传感器可以集成到SenSol传感器平台中。这...